In veel industriële systemen kan de functionaliteit van producten, apparatuur en processen verslechteren door contaminatie. Om het effect van contaminatie op het product en/of proces te verminderen, moet contaminatie worden gecontroleerd op een niveau dat de functionaliteit van het proces of product garandeert of zelfs verbetert. De implementatie van effectieve contaminatiecontrole vereist begrip van de fysica van deeltjespreventie, inclusief interactie van deeltjes met systeemoppervlakken.

TKI voorstel "Geavanceerde deeltjescontaminatiecontrole in hightechsystemen

Dit TKI project heeft als doel de contaminatiecontrole in hightech systemen te verbeteren. Het eerste doel is om een overzicht te maken van de belangrijkste oorzaken van contaminatie in hightechsystemen. Dit omvat de volledige keten van deeltjesvorming, vrijgave, transport en afzetting, samen met de invloed van proces en systeemdynamiek.

Het tweede doel is om kennislacunes te identificeren om deze gericht aan te pakken. Ondanks vooruitgang in technologieën blijven er kennislacunes bestaan in deeltjes dynamica en/of systeem interactie, wat effectieve deeltjes contaminatiebeheersing belemmerd. .

De derde focus ligt op het onderzoeken hoe lagedruk dwarsstroomconfiguraties deeltjesbanen beïnvloed, en het evalueren van de invloed van een elektrostatisch geladen sample plaat op deze banen. De bestaande Particle Test Rig worden gemodificeerd naar een “Electrostatic Crossflow Duct” configuratie. Deze unieke opstelling zal geavanceerde testen en visualisatie van deeltjesgedrag in een dwarsstroom configuratie mogelijk maken, evenals de impact van elektrostatische krachten op dit gedrag. Deze initiatieven zijn gericht op het ontwikkelen van effectieve strategieën om de betrouwbaarheid, prestaties en levensduur te verbeteren.