Dit project tussen NXP Semiconductors en TU Delft richt zich op het ontwikkelen van hoogwaardige, geautomatiseerde, AI-gedreven oplossingen om geavanceerde automotive halfgeleiderchips te testen en te diagnosticeren. Het doel is de kwaliteit te verbeteren, kosten te verlagen en de betrouwbaarheid van chips die in voertuigen van de volgende generatie worden gebruikt, te vergroten, wat zorgt voor veiligere en duurzamere mobiliteit.

Innovatie in Automotive IC Testen

Naarmate de automotive technologie zich ontwikkelt, neemt de vraag naar hoogwaardige, langer houdbare chips toe. Het project pakt de uitdaging aan van het testen van radar- en analoge/mengsignaal (AMS) componenten, die essentieel zijn voor autonoom rijden en elektrificatie. Door het ontwikkelen van hoogwaardige geautomatiseerde testmethoden verbetert het project de defectdetectie, verkort het de testtijd en zorgt het ervoor dat producten voldoen aan strenge industrienormen zoals Zero Defects en langdurige operationele betrouwbaarheid.

Impact op de Industrie en Duurzaamheid

De innovaties van het project zullen leiden tot een snellere inzet van hoogwaardige automotive IC's, ten gunste van zowel fabrikanten als consumenten. Naast het verbeteren van de productprestaties, zullen de ontwikkelde automatiserings- en AI-tools ook de verspilling verminderen, de duurzaamheid in de chipproductie bevorderen en circulaire ontwerpprincipes ondersteunen. Door de halfgeleidercapaciteiten van Nederland te versterken, speelt het project een cruciale rol in de vooruitgang van de wereldwijde automotive industrie.